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 CMI900(非破坏膜厚)

CMI900(非破坏膜厚)
 
 
产品介绍  
CMI900 镀层测厚仪特点:
  • 精度高、稳定性好
  • 强大的数据统计、处理功能
  • 测量范围宽
  • NIST 认证的标准片
  • 全球服务及支持 
技术参数  
主要规格 规格描述
X 射线激发系统 垂直上照式 X 射线光学系统
空冷式微聚焦型 X 射线管, Be 窗
标准靶材: Rh 靶;任选靶材: W 、 Mo 、 Ag 等
功率: 50W(4-50kV , 0-1.0mA) -标准 75W(4-50kV , 0-1.5mA) -任选
装备有安全防射线光闸
二次 X 射线滤光片: 3 个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配 6 种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如 4 、 6 、 8 、 12 、 20 mil 等 -矩形,如 1x2 、 2x2 、 0.5x10 、 1x10 、 2x10 、 4x16 等
测量斑点尺寸 在 12.7mm 聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为: 0.078 x 0.055 mm ( 使用 0.025 x 0.05 mm 准直器 )
在 12.7mm 聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为: 0.38 x 0.42 mm ( 使用 0.3mm 准直器 )
样品室 CMI900 CMI950
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
-最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
- XY 轴程控移动范围 标准: 152.4 x 177.8mm 还有 5 种规格任选 300mm x 300mm
- Z 轴程控移动高度 43.18mm XYZ 程控时, 152.4mm XY 轴手动时, 269.2mm
- XYZ 三轴控制方式 多种控制方式任选: XYZ 三轴程序控制、 XY 轴手动控制和 Z 轴程序控制、 XYZ 三轴手动控制
-样品观察系统

高分辨彩色 CCD 观察系统,标准放大倍数为 30 倍。 50 倍和 100 倍观察系统任选。

激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM 计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统: Windows2000 中文平台 分析软件包: SmartLink FP 软件包
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
-基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体 ( 镀液中的元素含量 )
可检测元素范围: Ti22 – U92
  可同时测定 5 层 /15 种元素 / 共存元素校正
贵金属检测,如 Au karat 评价
  材料和合金元素分析
材料鉴别和分类检测
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达 4 个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
-测量自动化功能 鼠标激活测量模式: “Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览 ( 图表显示 )
   


 
 
 
 
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