最新信息:
中文 | English
  +86-21-66621556/7/8/9
首 页产品和服务行业应用关于我们相关下载
产品和服务
行业应用
>> 产品和服务    
新能源(包含染料敏化太阳能) 航空航天测试仪器
特殊专业设备 机器人
CCD和CMOS相机 生命科学
私人潜水艇 核能
运动康复
>> 行业应用    
新能源 半导体及材料
光学 LCD/LED
特殊应用 机器人
您现在的位置:首页> 行业应用> 半导体及材料
 CMI243(便携金属镀层测厚仪)

CMI243(便携金属镀层测厚仪)
 
 
产品介绍  
    CMI243 镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器,专为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。     采用基于相位电涡流技术, CMI243 手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与 X 射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。 

测量技术:
    一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的 “ 升离效应 ” 导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。将最新的基于相位电涡流技术应用到 CMI243 镀层测厚仪,使其达到了 ±3% 以内(对比标准片)的准确度和 0.3% 以内的精确度。公司对电涡流技术的独特应用,将底材效应最小化,使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外,镀层测厚仪一般不需要在铁质底材上进行校准。

便携式、无损测量各种金属镀层
  • 精度高、稳定性好
  • 测量精度可与 X 射线测厚仪媲美
  • 可测量各种微型部件 ( φ 2.5mm )
  • 232 接口,可连接打印机或电脑 

技术参数  
误差 ±3%
分辨率 0.1um
最小曲率半径 1.2mm ( 凸 ) ; 1.5mm ( 凹 )
最小测量面积 φ 2.5mm
最小基体厚度 0.35mm
显示 3 位 LCD 数显
测量单位 um-mils 可选
校准方式 精密两点校准
统计数据 平均值、标准偏差 S 、读数个数 n(9,999 个 )、 最大值 max 、最小值 min
接口 232 串口
电源 1 节 9V 电池
仪器尺寸 150x80x 30mm
仪器重量 260g
 


 
 
 
 
首页 | 产品和服务 | 行业应用 | 关于我们 | 最新信息 | 相关下载 | 联系我们 Copyright :上海埃飞电子科技有限公司 Company Limited 2009-2010. All rights reserved
访问旧站点 友情提示:因网站使用最新技术,如出现显示问题,请升级IE,点击下载IE7.0  沪ICP备08024254号