纳米压入测试仪 (0.1 - 500mN)

    纳米压入测试仪主要适用于测量纳米尺度的硬度与弹性模量，测量结果通过载荷及压入深度曲线计算得出，无需应用显微镜观测压痕面积。纳米压入测试仪可被用于有机或无机、软质或硬质材料的检测分析，包括 PVD 、 CVD 、 PECVD 薄膜，感光薄膜，彩绘釉漆，光学薄膜，微电子镀膜，保护性薄膜，装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料，包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等。

    G200奈米压/刮痕专用试验机，除了能提供使用者/研究单位或得薄膜材料的Young’s Modulus, Hardness, Stiffness资讯之外，更重要的是它能提供研究单位进一步去探讨单层/多层薄膜材料在不同的压印深度下对应的机械性质关系。

    G200独家专利模组CSM(连续刚性量测,Continuous Stiffness Measurement)让您有效分析压印过程中可能伴随的基板效应(substrate effective)；以及利用CSM模组设定不同的Strain rate/load rate control，分析不同的测试参数反应出材料的硬度与压印深度的关系。

    选配模组- Nano Vision则是提供一个奈米三维(3-D)压/刮痕量测与定位功能。试验后利用原探针直接扫描压印后试片表面的形貌，让您迅速又便利的立即观测压/刮试验后，材料的尺寸变化。您不必担心试片置于AFM下不易定位而让费您宝贵的时间

    G200是市面上唯一一部符合国际规范ISO14577-Part 1,2,3 的奈米压痕试验机；经过国际规范的约束所呈现的高再现性与高可靠性的数据，绝对是其他家厂商所推出的奈米压痕试验机无法匹配的。