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 正电子湮没寿命谱仪

正电子寿命测试系统
寿命测试,符合多普勒展宽测试,和寿命-动量关联测试

正电子寿命测量技术被用于半导体材料的空位型缺陷研究。这是一款集成了测量设备和能量供应的系统。通过两个BF2闪烁体输入的高速脉冲信号,系统以3GS/s的速度计算正电子寿命。在符合多普勒展宽测试中,通过两个锗半导体探测器,得到一个符合值的波高2D柱状图。此外,根据系统的组合,还能测定寿命和动量相关的寿命-动量关联测试结果。


 
 
 
 
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