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  红外热成像显微镜

 

红外热成像显微镜

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

随着电子器件的不断缩小,热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面,使热点和热梯度可显示缺损位置,通常导致效率下降和早期故障的快速检测。

 

应用

检测芯片的热点和缺陷

电子元件和电路板故障诊断测量结温

甄别芯片键合缺陷测量热电阻装

激光二极管性能和失效分析

 

产品特点

20微米/像素固定焦距

50度广角聚焦镜头

320*240非制冷探测器

30/秒拍摄和显示速度

0—300摄氏度测量范围室温测量

便于使用——1分钟安装测量待命

 

 

 

 

 

 

 

热点及缺陷

 

infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法

提供检测和定位的热点在半导体器件

消耗小于1毫瓦的功率和升高温度, 表现出只有0.05摄氏度。

短时间试验中,设备通常是供电的510秒。

I/O模块使最大功耗是与软件测试同步。

 
 

 

 

    

    

 

 

 

 

 

 

 

 

    测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失,只有少量的电和热,

一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。  自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源,

对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。

这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏,同时定位时间。

 

 

链接方法

 

微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温, 一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。

该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。

然后计算thermalyze软件的表面,

适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温,设备供电,最高温度区域内围交界处测量。

       
 
   
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

红外热成像配套软件

软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户

非常容易而快速获取温度信息。实时的带

状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性

的数据分析手段

 


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